총 4개의 램 중 에러 있는 램을 찾기 위해

한번에 하나씩 테스트 할 경우는 O(N) 으로 총 4번의 테스트가 필요하고..

반띵으로 나눠서 테스트 하면 O(logN) 으로, 이 경우는 총 3번의 테스트가 필요합죠.

물론 이 조건 조차, 램 에러는 하나다 라는 것과 슬롯 문제가 없다는 가정하에서 진행되는건데..

최악으로 가정한다면 몇 번의 횟수와 무슨 방법이 필요할까 생각하게 됩니다.